GB/T 2423.1-2001

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本(ben)標準所涉及的(de)低溫(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)適用(yong)(yong)于非(fei)散熱和(he)(he)散熱兩類試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)樣品。對于非(fei)散熱試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)樣品，試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)Aa和(he)(he)Ab不(bu)違背早期(qi)(qi)發行(xing)的(de)標準。本(ben)標準**于用(yong)(yong)來考核或(huo)確定電工、電子產品(包括件、設備及其他(ta)產品)在低溫(wen)(wen)環(huan)境(jing)條件下(xia)貯(zhu)存(cun)和(he)(he)(或(huo))使(shi)用(yong)(yong)的(de)適應(ying)性。這一(yi)低溫(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)不(bu)能(neng)用(yong)(yong)來評價試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)樣品對溫(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)化的(de)耐抗(kang)性和(he)(he)在溫(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)化期(qi)(qi)間的(de)工作能(neng)力，在這種情況下(xia)，應(ying)當采用(yong)(yong)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)N:溫(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)化試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方法。

低(di)溫(wen)試驗方法分為以下三類:

非散熱試(shi)驗樣品低溫試(shi)驗:——試(shi)驗Aa:

溫度突變——試(shi)驗Ab:

溫(wen)度漸變散熱(re)試(shi)(shi)驗樣品(pin)低溫(wen)試(shi)(shi)驗:——試(shi)(shi)驗Ad:

溫(wen)度漸變本(ben)試驗(yan)(yan)方法通(tong)常用(yong)于條件試驗(yan)(yan)期(qi)間(jian)(jian)能達到(dao)溫(wen)度穩定的試驗(yan)(yan)樣品(pin)。試驗(yan)(yan)持(chi)續(xu)時(shi)(shi)間(jian)(jian)是從試驗(yan)(yan)樣品(pin)溫(wen)度達到(dao)穩定時(shi)(shi)開始(shi)計算的。在(zai)特殊(shu)情(qing)況下，如果條件試驗(yan)(yan)期(qi)間(jian)(jian)試驗(yan)(yan)樣品(pin)達不到(dao)溫(wen)度穩定，則試驗(yan)(yan)持(chi)續(xu)時(shi)(shi)間(jian)(jian)從試驗(yan)(yan)箱(室)達到(dao)規定試驗(yan)(yan)溫(wen)度時(shi)(shi)開始(shi)計算。

相關規范應規定:

a)試驗箱(室)內溫度變化速率(lv);

b)試驗樣品放(fang)入試驗箱(xiang)(室(shi))的時間;

c)試(shi)(shi)驗樣(yang)品在(zai)試(shi)(shi)驗條件下(xia)(xia)暴露試(shi)(shi)驗開始的時間;d)試(shi)(shi)驗樣(yang)品通電或加負載的時間。在(zai)這些條件下(xia)(xia)，相關規(gui)范的制定者可根據GB/T2424.1-1989導則選定以(yi)上4個參(can)數(以(yi)上條件下(xia)(xia)的修(xiu)訂正在(zai)考(kao)慮之中)。