分享用電磁振動試驗臺尋找共振點的方法

用電(dian)磁振(zhen)(zhen)(zhen)動試驗(yan)臺尋(xun)找(zhao)電(dian)子產品焊(han)(han)接瑕疵（虛(xu)焊(han)(han)、假焊(han)(han)）是(shi)行(xing)業內(nei)的(de)一貫做法(fa)。其方法(fa)是(shi)通過掃頻來尋(xun)找(zhao)共(gong)振(zhen)(zhen)(zhen)點，然后在共(gong)振(zhen)(zhen)(zhen)點上(shang)持續進行(xing)破壞性振(zhen)(zhen)(zhen)動，造成焊(han)(han)接不合格元件脫落。下(xia)面(mian)我們(men)來介(jie)紹一下(xia)用電(dian)磁振(zhen)(zhen)(zhen)動試驗(yan)臺尋(xun)找(zhao)共(gong)振(zhen)(zhen)(zhen)點的(de)方法(fa)。

1、掃頻的速率。在掃頻過程中，掃頻速率的大小會影響共振峰的放大倍數。理論上講，如果在共振搜索時掃頻速率過快，這會丟失一些頻帶比較窄的共振點。所以在設置振動臺掃頻參數時，盡量放低掃頻的速度，不論是線性掃頻還是倍數掃頻，都有利于發現更多的共振點。

2、掃頻的方向。在掃頻測試過程中，隨著向上掃頻進行并接近共振時，共振點的幅值開始增加。因為振幅與頻率是成反比例的，所以幅值的增加就導致了共振頻率的降低。所以這個有效效應其實就是向上掃頻迅速接近共振峰值，在同一時間共振峰頻率也同時迅速降低。當向下掃頻時并快接近共振時，共振正好也向同一個方向移動。隨著幅值的增加，共振頻率會降低。所以，掃頻方向和共振頻率移動一致時，掃頻測試就會有更充足的時間采集產品的共振峰了。

3、掃頻(pin)的方式(shi)。一般在低頻(pin)時用線性(xing)掃頻(pin)，在高頻(pin)時用對數掃頻(pin)更有利于發現共(gong)振點。

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