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冷熱沖擊試驗高溫到低溫沖擊試驗箱

簡要描述:

本産品是(shi)根(gen)據用戶要(yao)求設計製造(zao),適用於艦船(chuan)、電工(gong)、電子(zi)等産品整機及(ji)零部件(jian)的高(gao)(gao)低(di)溫(wen)(wen)衝擊(ji)(ji)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)及(ji)高(gao)(gao)溫(wen)(wen)或低(di)溫(wen)(wen)環(huan)(huan)境下的貯存(cun)和試(shi)(shi)驗(yan)(yan)。供用戶對(dui)整機(或部件(jian))、電器(qi)、儀器(qi)、材料、塗層、鍍(du)層等作(zuo)相(xiang)應的氣候環(huan)(huan)境加速試(shi)(shi)驗(yan)(yan),以便對(dui)試(shi)(shi)品或試(shi)(shi)品試(shi)(shi)驗(yan)(yan)行爲作(zuo)出(chu)評價(jia)。冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)(ji)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)高(gao)(gao)溫(wen)(wen)到(dao)低(di)溫(wen)(wen)沖(chong)擊(ji)(ji)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)

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冷熱沖擊試驗高溫到低溫沖擊試驗箱

高低溫沖擊試驗箱是根據用(yong)(yong)戶要(yao)求設計製造,適用(yong)(yong)於艦船、電工(gong)、電子等産(chan)品整機(ji)(ji)及零部件的(de)高(gao)低溫(wen)衝擊試(shi)(shi)驗及高(gao)溫(wen)或(huo)(huo)低溫(wen)環(huan)境下的(de)貯存和試(shi)(shi)驗。供用(yong)(yong)戶對(dui)整機(ji)(ji)(或(huo)(huo)部件)、電器(qi)、儀器(qi)、材料、塗層、鍍層等作相應的(de)氣候(hou)環(huan)境加速試(shi)(shi)驗,以便對(dui)試(shi)(shi)品或(huo)(huo)試(shi)(shi)品試(shi)(shi)驗行爲作出(chu)評價。

一、高低溫沖擊試驗箱的高低溫衝擊試(shi)驗箱保證完整(zheng)、外觀完好、備件(jian)齊全,能長期穩(wen)定運(yun)行,參照以下(xia)標準製造(zao):

系統(tong)符(fu)合(he)(he)MIL STD,GB,S,JEDEC,IEC等測試(shi)規範;符(fu)合(he)(he)GB2423.1-89;GB2423.2-89;GB2423.4-89;GB/T2423.3-93;GB/T2423-93等標準。
 

二、  主(zhu)要(yao)技術參數:

1、高低溫區溫度範圍:

A、高溫區部分:+80℃~+150℃;

B、低溫區(qu)部分:-10℃~-60℃;

2、測試(shi)區溫(wen)度沖擊範圍:-40℃~+150℃;

3、控制(zhi)精度:&plsmn;2℃;

4、解析精度(du):0.01℃;

5、高溫(wen)區升(sheng)溫(wen)時間:常溫(wen)~150℃,小於40分鐘;

6、低(di)溫(wen)區降(jiang)溫(wen)時間:常溫(wen)~-40℃,小於50分鐘;

7、測試區溫度恢復(fu)時(shi)間:3~5分鐘;

8、試品重量:5Kg

9、系統雜訊:78dB以(yi)下(xia)。

10、機器結構與材(cai)質:

A、結構:分為高溫區、低溫區、測試區;

B、內部(bu)尺寸:50cm(W)*50cm(H)*40cm(D),80L;

C、內外箱材質:SS#304耐熱耐寒不銹鋼(gang)。

D、保溫材質:高(gao)密度(du)玻璃棉及高(gao)強度(du)P發泡絕緣材料(liao);

E、防(fang)汗(han)機構:以系統K型管之熱能作防(fang)汗(han)處理;

F、附(fu)屬設備(bei):耐寒耐熱(re)之(zhi)高(gao)(gao)張性迫緊(packing),可耐高(gao)(gao)溫400℃,低溫-200℃;G、高(gao)(gao)低溫自動(dong)轉換設備(bei)一(yi)套;

11、內箱配置:

A.測(ce)試區(qu)的(de)(de)高度可以調整(zheng),並能承受(shou)5Kg以上的(de)(de)重量;

B.箱內置電(dian)源:三(san)相(xiang)五線(AC380V,50HZ),可承受18A電(dian)流,電(dian)壓(ya)範圍為350~400V。

三、 冷熱沖擊試驗高溫到低溫沖擊試驗箱工作原理(li)

A、低溫(wen)儲存室(shi):箱內溫(wen)度狀態由風(feng)道中的(de)(de)加(jia)熱器、蒸發(fa)器以(yi)及風(feng)機的(de)(de)工(gong)(gong)作(zuo)狀態決(jue)定。經過膨(peng)(peng)脹(zhang)(zhang)閥節(jie)流(liu)流(liu)出的(de)(de)製冷(leng)劑(ji)進(jin)入(ru)工(gong)(gong)作(zuo)室(shi)內蒸發(fa)器後(hou),吸收工(gong)(gong)作(zuo)室(shi)內熱量並(bing)氣(qi)化,使工(gong)(gong)作(zuo)室(shi)溫(wen)度降低;氣(qi)化後(hou)的(de)(de)工(gong)(gong)質被壓(ya)縮(suo)(suo)機吸入(ru)並(bing)壓(ya)縮(suo)(suo)成(cheng)高(gao)溫(wen)、高(gao)壓(ya)氣(qi)體進(jin)入(ru)冷(leng)凝器中被冷(leng)凝成(cheng)液(ye)體,再(zai)經篩檢(jian)程式,後(hou)通過膨(peng)(peng)脹(zhang)(zhang)閥節(jie)流(liu)後(hou),重新又進(jin)入(ru)工(gong)(gong)作(zuo)室(shi)內蒸發(fa)器中吸熱並(bing)氣(qi)化然後(hou)再(zai)被壓(ya)縮(suo)(suo)機吸入(ru)壓(ya)縮(suo)(suo)。如此往復迴圈工(gong)(gong)作(zuo),使工(gong)(gong)作(zuo)室(shi)溫(wen)度降到設置(zhi)的(de)(de)溫(wen)度要求

B、高溫(wen)(wen)儲存(cun)室:中央控制(zhi)器(qi)從(cong)感(gan)溫(wen)(wen)元件檢測即時信(xin)號(hao),與設定溫(wen)(wen)度信(xin)號(hao)進行(xing)比較,得到(dao)比較信(xin)號(hao),由儀錶(biao)PID邏輯電路輸出信(xin)號(hao)控制(zhi)固態(tai)繼電器(qi)的導通或(huo)關斷(duan)的時間比例(li)調節加熱器(qi)輸出功(gong)率大小,從(cong)而達到(dao)自(zi)動控溫(wen)(wen)的目的。

C、衝擊溫(wen)(wen)度(du)測試室:由儀錶(biao)自(zi)動控制(zhi)高(gao)低(di)溫(wen)(wen)氣(qi)(qi)閥,在低(di)溫(wen)(wen)或高(gao)溫(wen)(wen)儲存室之(zhi)間(jian)切換,分別與高(gao)溫(wen)(wen)箱(xiang)或低(di)溫(wen)(wen)箱(xiang)形成(cheng)閉路(lu)空氣(qi)(qi)循環(huan)系統,迅(xun)速達到試驗的目(mu)標溫(wen)(wen)度(du)。

試驗箱內(nei)溫(wen)度狀(zhuang)態由風道(dao)中(zhong)的加熱器(qi)、蒸發器(qi)、及(ji)風機(ji)的工作(zuo)狀(zhuang)態決定。

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