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全國統一銷售熱線：18925802250產品列表PRODUCTS LIST
電子(zi)產品溫(wen)(wen)(wen)度老(lao)化測(ce)試(shi)高低(di)(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)驗(yan)箱，是根據不(bu)同(tong)的需求而定的，溫(wen)(wen)(wen)度和規(gui)格尺寸，決定了該系列(lie)高低(di)(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)驗(yan)箱的不(bu)同(tong)價格，詳細的高低(di)(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)驗(yan)箱價格，我司市場部(bu)查(cha)詢。
電子產品溫度老化測試高低溫試驗箱
一、高(gao)低溫(wen)的用途(tu)
該設(she)備(bei)主要是針(zhen)對于電(dian)(dian)工(gong)、電(dian)(dian)子產(chan)品，以(yi)及(ji)(ji)(ji)其(qi)原器(qi)件，及(ji)(ji)(ji)其(qi)它(ta)材料在高(gao)溫(wen)、低溫(wen)、濕熱及(ji)(ji)(ji)其(qi)循環變化(hua)的環境下貯存(cun)、運輸、使用時的適應性試驗。
該試驗設(she)備(bei)主要用(yong)于對產品按照(zhao)標準要求或用(yong)戶自(zi)定要求，在低溫、高(gao)溫、高(gao)溫高(gao)濕及(ji)(ji)其循環變化條件下，對產品的物(wu)理以及(ji)(ji)其他(ta)相關特性進行環境模擬測(ce)試，測(ce)試后，通過(guo)檢測(ce)，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預(yu)定要求，以便供產品設(she)計、改進、鑒定及(ji)(ji)出廠檢驗用(yong)。
電子產品溫度老化測試高低溫試驗箱
二、高(gao)低溫箱設(she)備的主要技術指標
1 、溫度范(fan)圍：-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃～+100（150）℃
高低溫交變試驗機產品規格
型號:K-80T 內型尺寸:D×W×H 400×500×400
型號:K-150T 內型尺寸:D×W×H 500×600×500
型號:K-225T 內型尺寸:D×W×H 500×750×600
型號:K-408T 內型尺寸:D×W×H 600×850×800
型號:K-800T 內型尺寸:D×W×H1000×1000×800
型號:K-1000T內型尺寸: D×W×H1000×1000×1000
參照標(biao)準(zhun)
GB/T5170.5-2008 濕熱試驗設備方法
GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術條件
GB/T2423.1-2008試驗A 低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B 高溫試驗方法
GB/T2423.3-2006試驗Ca 恒定濕熱試驗方法
GB/T2423.4-2008試驗Db 交變濕熱試驗方法
0769-8220 5353
0769-8220 5560
0769-8220 5656
0769-8220 5757
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